В книге излагаются рефрактометрические методы изучения реальной, атомной и электронной структуры кристаллических веществ. Рассмотрена зависимость оптических свойств кристаллов от симметрии решетки и расположения структурных единиц в кристаллическом пространстве показаны возможности определения геометрической изомерии, координации и длин связей атомов, описаны рефрактометрические приемы изучения водородных связей и результаты исследования взаимного влияния атомов в комплексных соединениях. Большое внимание уделяется экспериментальным методам определения полярности химических связей. Приводятся подробные таблицы показателей преломления неорганических кристаллов, детально рассмотрен вопрос о влиянии давления и температуры на рефрактометрические константы химических веществ. Учебное пособие. Издание 2-е, переработанное и дополненное.
Автор
Бацанов С. С.
Издательство
Высшая школа
Год издания
1976
Возрастное ограничение
12+
Объем (стр)
304
Состояние
Хорошее
Отзыв успешно отправлен. Он будет проверен администратором перед публикацией.
